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Products叶面积指数测量仪对不同方向的冠层进行区域性分析时,可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择,可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件,通过手动调节阈值,可以更精准的测量出叶面积指数等参数。
叶面积指数仪仪器主要技术参数 镜头角度:150° 分辨率:768×494pix 测量范围:天顶角由0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域,方位角360°亦可分割成十个区域 PAR感应范围:感应光谱400nm~700nm 测量范围0~2000μmol/㎡•S 分析软件:植物冠层分析系统 电 源:8.4v可充电锂电池组
叶面积指数测定仪测试原理与方法 植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下,植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法,该方法是各类方法中省力、省时、快。